硅片是半導體芯片制造的基本元器件，為提高芯片質量，硅片缺陷檢測必不可少。匯光科技有專用硅片檢測顯微鏡（如下圖），我們一起來了解一下。

硅片缺陷檢測主要是表面檢測，這是我司根據客戶需求定制儀器，兩邊鏡頭同時觀察，成像數據可實時展示在顯示器上，匯光科技供應的硅片檢測顯微鏡主要有以下功能。

1、硅片厚度測量。硅片檢測顯微鏡有2個鏡頭，臥式鏡頭可測量硅片厚度。當然您若需要測量硅片均勻性還需要專用檢測設備。  

2、硅片表面雜質檢測，硅片檢測顯微鏡放大倍數可達200倍，可清晰觀察產品硅片表面問題

3、硅片是否崩邊，缺角。通過旋轉硅片檢測顯微鏡的載物臺，我們可輕松觀察硅片邊緣部分缺陷。

隨著電子產品尺寸不斷縮小，半導體檢測設備也越來越多，目前，我司供應的半導體檢測設備除了硅片檢測顯微鏡，還包括半導體金相顯微鏡mx系列，晶圓搬送機，晶圓切割3D形貌檢測機，晶圓厚度形貌測量儀等半導體檢測設備，感興趣的朋友可來我司試樣選購哦。